Horowitz Harvey J.
Horvath Stephen E.
Hosokawa Hiromu
Hovey Frederick A.
Hsieh Chang-Fa
Huckriede Martin
Hugo Rolf
Huijer Pieter
Hulshof Jozef Johannes Maria
Hunt Stuart W. A.
Ichigaya Hiroshi
Ichigaya Koji
Ichino Toshio
ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiter
Iida Mikio
Iimura Kazuyuki
Ikebata Shigeki
Ikeda Chisato
Ikeda Hiroya
Ikehata Shigeki